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進(jìn)行結(jié)構(gòu)油箱密封試驗(yàn)時(shí)，將內(nèi)部充灌煤油（或按嗅敏儀的不同要求充灌規(guī)定的氣體）：停留一定時(shí)間，用嗅敏儀進(jìn)行檢測(cè)。嗅敏儀的指示器和報(bào)警器裝置幫助試驗(yàn)人員檢查油箱的密封情況。由于嗅敏儀靈敏度比較高，因此對(duì)試驗(yàn)環(huán)境有一定的要求，如清潔、通風(fēng)以及周圍環(huán)境不被煤油污染等。
五、泄漏模式及影響因素分析
（一）氣密艙和結(jié)構(gòu)油箱的泄漏模式
氣密艙和結(jié)構(gòu)油箱泄漏包括可控制泄漏和不可控制泄漏兩種�？煽刂菩孤┲杆� •+%•
第七篇 (飛機(jī)故障診斷
 
有可控制的排氣（或放油）口的排氣（或放油），如艙壓調(diào)節(jié)器的排氣活門放氣：結(jié)構(gòu)
油箱的放油口放油等。不可控制的泄漏指密封艙結(jié)構(gòu)的不密封造成的泄漏。常見的
泄漏部位有緊固件連接的接縫區(qū)域，操縱系統(tǒng)，管、線穿過密封艙的孔口以及門、窗、
艙蓋與口框接觸面之間的接縫等。
可控制泄漏主要取決于所選用設(shè)備的質(zhì)量及功能。結(jié)構(gòu)修理時(shí)所討論的密封問
題主要指的是不可控制泄漏。
不可控制的泄漏可分為下面兩類：
（）門、窗、艙蓋與口框接觸面之間的泄漏以及桿、鋼索和管路、導(dǎo)線穿過密封艙
部位的泄漏。這些部位主要是采用橡膠原料制成的封嚴(yán)條、帶、管、套及密封皮碗、密
封墊等并輔以密封涂層進(jìn)行密封。因此，維修過程中要嚴(yán)格控制這些橡膠件的質(zhì)量，
保證安裝正確，及時(shí)更換老化、損傷件，這樣可基本滿足密封性要求。
（"）密封艙結(jié)構(gòu)的泄漏。氣體或液體是通過構(gòu)件接觸面之間的間隙以及緊固件（鉚釘、螺釘?shù)龋┡c孔壁之間的間隙泄漏的。這類泄漏故障是普遍存在的，影響因素隨機(jī)性很強(qiáng)，也是最不易控制的故障模式。它是氣密結(jié)構(gòu)修理的重點(diǎn)。
（二）影響密封艙結(jié)構(gòu)密封性的因素影響密封艙結(jié)構(gòu)密封性因素有以下幾種： 環(huán)狀縫隙影響因素緊固件與其孔壁之間的間隙稱為環(huán)狀縫隙。施鉚時(shí)，鉚成頭（鐓頭）受力之后變形最大，而鉚釘頭受鉚接力后變形最小，釘桿變形居中。當(dāng)結(jié)構(gòu)受力產(chǎn)生嚴(yán)重變形時(shí)，鉚釘桿與孔壁之間的間隙增大，可能成為最嚴(yán)重的泄漏處。 "平面間隙影響因素當(dāng)表面粗糙的結(jié)構(gòu)件通過緊固件連接時(shí)，結(jié)構(gòu)件的相互接觸，實(shí)際上是貼合表面的某些點(diǎn)的接觸。因此，連接的貼緊程度取決于接觸面的平坦度和光潔度。被連接件接觸面之間的間隙稱為平面間隙。無論在結(jié)構(gòu)變形前和變形后，被連接結(jié)構(gòu)件接觸平面之間的氣體泄漏量都比緊固件與其孔壁之間的氣體泄漏量大得多。平面間隙是產(chǎn)生氣體泄漏的主要部位，因此，接觸面的光滑和平整是很重要的。同時(shí)，選擇合理的鉚釘間距、排距也是十分重要的。 加工與裝配質(zhì)量的影響平面間隙泄漏量與間隙寬度的立方成正比，所以間隙寬度對(duì)泄漏量影響最大。如果間隙寬度加大到原來的 "倍，其他條件不變，則泄漏量加大到原來的 %倍。環(huán)狀間隙大小取決于公差配合，如果配合公差選擇不當(dāng)或加工不準(zhǔn)確，都會(huì)使密封性受到嚴(yán)重影響。裝配質(zhì)量也很重要，孔與釘桿最大偏心時(shí)的縫隙是孔與釘桿同心時(shí)縫隙的 "倍。因此，前者的泄漏量就比后者大。所以，除了注意選擇適當(dāng)?shù)呐浜瞎�差和�?
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意提高孔與釘桿的加工質(zhì)量以外，還要重視裝配質(zhì)量。
蒙皮腐蝕損傷的較好方法。因?yàn)樗�能靈敏地檢測(cè)出晶間腐蝕裂紋和小的蝕坑。采用渦流檢測(cè)可以估計(jì)出腐蝕損傷造成厚度減少的近似值。例如，可以估計(jì)出原厚度減少 "、"還是 %"。用渦流檢測(cè)法只能檢查外層構(gòu)件的腐蝕損傷，不能檢測(cè)出內(nèi)層構(gòu)件的腐蝕損傷。檢測(cè)腐蝕損傷，需要使用標(biāo)準(zhǔn)參考試件。
第四節(jié) &射線檢測(cè)
射線檢測(cè)法是利用某些射線能穿透物質(zhì)并且能使膠片感光或使某些熒光物質(zhì)發(fā)光的特性，對(duì)試件進(jìn)行探傷。通常，易于穿透物質(zhì)的射線有 ’射線、丁射線和中子射線等。
一、射線的產(chǎn)生
（一） ’射線的產(chǎn)生 ’射線是由一種特制的 ’射線管產(chǎn)生的。射線管非常類似于二極電子管。 ’射線管由陰極、陽(yáng)極和玻璃外殼組成。陰極燈絲通電加熱后，電子就在真空管中放出。這些熱電子在高壓電場(chǎng)（電壓幾萬伏到幾十萬伏）作用下，以相當(dāng)大的速度向陽(yáng)極金屬靶撞擊。當(dāng)熱電子撞擊到陽(yáng)極靶后，大部分能量轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮�，而一部分轉(zhuǎn)變?yōu)?’射線能，透過 ’射線管的管壁向外面發(fā)射。通常，探傷用的 ’射線就是由此而產(chǎn)生的。 ’射線的密度是由加熱陰極燈絲的電流控制的。（二） 射線的產(chǎn)生
射線是放射性原子核在自然裂變時(shí)放射出來的電磁波。原子核是由質(zhì)子和中子組成的，質(zhì)子數(shù)和中子數(shù)的總和叫做原子核質(zhì)量數(shù)。例如，普通的鈷原子核含有 (個(gè)質(zhì)子和 %個(gè)中子，所以質(zhì)量數(shù)為 )*，寫作 +,)*。把 +,)*放進(jìn)原子反應(yīng)堆，使它吸收中子，它就增加一個(gè)中子變成 +, -"。這是一種不穩(wěn)定的元素，叫做放射性同位素。 +, -"原子核中的一個(gè)中子變?yōu)橘|(zhì)子時(shí)，就成為穩(wěn)定的 ./-"，與此同時(shí)放射出 "和 射線。因同位素是在裂變時(shí)放出射線的，所以射線源隨著時(shí)間的推延而逐漸減弱。強(qiáng)度減到一半的時(shí)間叫做半衰期。在無損檢測(cè)中應(yīng)用的射線源，半衰期至少幾十天，否則就沒有什么實(shí)用價(jià)值了。能滿足這個(gè)條件的同位素還有 +0%(（銫）、12*（銥）和 34("（銩）等。
射線源比 ’射線源裝置小，有利于在現(xiàn)場(chǎng)較狹窄或外場(chǎng)檢測(cè)時(shí)應(yīng)用。關(guān)斷 ’射線源裝置的電源，它就不會(huì)再發(fā)出 ’射線。但是，同位素射線源（如 射線源）與此不同，它是連續(xù)不斷地發(fā)射出射線的，因此，對(duì)同位素射線源的管理必須 •*(%•
 
嚴(yán)格。通常，同位素嚴(yán)格封存在帶有鉛板屏蔽保護(hù)的裝置中，只有在使用時(shí)，才打開它。
二、射線檢測(cè)的基本原理
射線和 射線都是波長(zhǎng)很短的電磁波。 射線的波長(zhǎng)比 射線的波長(zhǎng)更短。 射線和 射線都具有穿透金屬或其他物質(zhì)的能力。 射線的穿透能力更強(qiáng)一些。下面以 射線為例，說明射線檢測(cè)的基本原理。
射線穿透金屬或其他物質(zhì)的穿透率與被照物質(zhì)的種類、厚度或密度有關(guān)。物質(zhì)密度越高，射線被吸收量越多，穿透率越低。 射線透過被檢物體時(shí)，缺陷或損傷部位（如氣孔、非金屬夾雜物等）的密度與基體金屬不同，對(duì)射線的吸收能力是不同的。缺陷或損傷部位所含的空氣或夾雜物對(duì)射線的吸收能力大大低于基體金屬對(duì)射線的吸收能力。這樣，透過有缺陷或損傷部位的射線強(qiáng)度高于無缺陷或損傷部位的射線強(qiáng)度。所以， 射線感光膠片上對(duì)應(yīng)于缺陷或損傷的部位，接受的 射線粒子就多，從而所形成缺陷或損傷影像的黑度也就高。缺陷或損傷沿射線透照方向的深度越深，或被透照物質(zhì)的射線衰減系數(shù)越大，則透過缺陷部位與其他部位的射線強(qiáng)度差越大，從而反映在底片上的黑度差也越大，缺陷就越容易被發(fā)現(xiàn)（見圖 "  %）。
　
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