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）板波法
使用板波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱為板波法。主要用于薄板、薄壁管等形狀簡(jiǎn)單的試件檢測(cè)，板波充塞于整個(gè)試件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部的和表面的缺陷。但是檢出靈敏度除取決于儀器工作條件外，還取決于波的形式。
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）爬波法
爬波指表面下縱波，它是當(dāng)?shù)谝粋�(gè)介質(zhì)中的縱波入射角位于第一臨界角附近時(shí)在第二介質(zhì)中產(chǎn)生的表面下縱波。這時(shí)第二介質(zhì)中除了表面下縱波外，還存在折射橫波。這種表面下縱波不是純粹的縱波，還存在有垂直方向的位移分量。
爬波對(duì)于檢測(cè)表面比較粗糙的工件的表層缺陷，如鑄鋼件、有堆焊層的工件等，其靈敏度和分辨力均比表面波高。
"按探頭數(shù)目分類
）單探頭法
使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測(cè)方法稱為單探頭法。單探頭法操作方便，大多數(shù)缺陷可以檢出，是目前最常用的一種方法。
單探頭法檢測(cè)，對(duì)于與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體型缺陷的檢出效果最好。與波束軸線平行的片狀缺陷難以檢出。當(dāng)缺陷與波束軸線傾斜時(shí)，則根據(jù)傾斜角度的大小，能夠收到部分回波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無(wú)法檢出。
%）雙探頭法使用兩個(gè)探頭（一個(gè)發(fā)射，一個(gè)接收）進(jìn)行檢測(cè)的方法稱為雙探頭法。主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭法難以檢出的缺陷。雙探頭法又可根據(jù)兩個(gè)探頭排列方式和工作方式進(jìn)一步分為并列式、交叉式、 &形串列式、 ’形串列式、串列式等。
（）并列式。兩個(gè)探頭并列放置，檢測(cè)時(shí)兩者作同步同向移動(dòng)。但直探頭作并列放置時(shí)，通常是一個(gè)探頭固定，另一個(gè)探頭移動(dòng)，以便發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面傾斜的缺陷，分割式探頭的原理，就是將兩個(gè)并列的探頭組合在一起，具有較高的分辨力和信噪比，適用于薄試件、近表面缺陷的檢測(cè)。
（%）交叉式。兩個(gè)探頭軸線交叉，交叉點(diǎn)為要探測(cè)的部位，種檢測(cè)方法可用來(lái)發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面垂直的片狀缺陷，在焊縫檢測(cè)中，常用來(lái)發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。
（"）&形串列式。兩探頭相對(duì)放置在同一表面上，一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個(gè)探頭的入射點(diǎn)上海。此種檢測(cè)方法主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面平行的片狀缺陷。
（(）’形串列式。兩探頭以相同的方向分別放置于試件的上下表面上。一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波進(jìn)入另一個(gè)探頭。此種檢測(cè)方法主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面垂直的片狀缺陷。
（）串列式。兩探頭一前一后，以相同方向放置在同一表面上，一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射的回波，經(jīng)底面反射進(jìn)入另一個(gè)探頭。此種檢測(cè)方法用來(lái)發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面垂直的片狀缺陷（如厚焊縫的中間未焊透）。兩個(gè)探頭在一個(gè)表面上移動(dòng)，操作比較方便。是一種常用的探測(cè)方法。
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）多探頭法
使用兩個(gè)以上的探頭成對(duì)地組合在一起進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱為多探頭法。多探頭法的應(yīng)用，主要是通過增加聲束來(lái)提高檢測(cè)速度或發(fā)現(xiàn)各種取向的缺陷。通常與多通道儀器和自動(dòng)掃描裝置配合。
"按探頭接觸方式分類依據(jù)檢測(cè)時(shí)探頭與試件的接觸方式，可以分為接觸法與液浸法。 ）直接接觸法探頭與試件探測(cè)面之間，涂有很薄的耦合劑層，因此可以認(rèn)為兩者直接接觸，這
種檢測(cè)方法稱為直接接觸法。此方法操作簡(jiǎn)便，檢測(cè)圖形較簡(jiǎn)單，判斷容易，檢出缺陷靈敏度高，是實(shí)際檢測(cè)中
用的最多的方法。但是，直接接觸法檢測(cè)的試件，要求探測(cè)面粗糙度較低。 %）液浸法將探頭和工件浸于液體中以液體作耦合劑進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱為液浸法。耦合
劑可以是水，也可以是油。當(dāng)以水為耦合劑時(shí)，稱為水浸法。液浸法檢測(cè)，探頭不直接接觸試件，所以此方法使用于表面粗糙的試件，探頭也不易磨損，耦合穩(wěn)定，探測(cè)結(jié)果重復(fù)性好，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)。液浸法按檢測(cè)方式不同又分為全浸式和局部浸沒式。（）全浸沒式。被檢試件全部浸沒于液體之中，適用于體積不大，形狀復(fù)雜的試件的檢測(cè)。
（%）局部浸沒式。把被檢試件的一部分浸沒在水中或被檢試件與探頭之間保持一定的水層而進(jìn)行檢測(cè)的方法，適用于大體積試件的檢測(cè)。局部浸沒法又分為噴液式、通水式和滿溢式。
噴液式。超聲波通過以一定壓力噴射至探測(cè)表面的液流進(jìn)入試件。 "通水式。借助于一個(gè)專用的有進(jìn)水、出水口的液罩，以使罩內(nèi)經(jīng)常保持一定容量的液體，這種方法稱為通水式。 滿溢式。滿溢罩結(jié)構(gòu)與通水式相似，但只有進(jìn)水口，多余液體在罩的上部溢出，這種方法稱為滿溢式。根據(jù)探頭與試件探測(cè)面之間液層的厚度，液浸法又可分為高液層法和低液層法。
二、儀器與探頭的選擇
探測(cè)條件的選擇首先是指儀器和探頭的選擇。正確選擇儀器探頭對(duì)于有效地發(fā)現(xiàn)缺陷，并對(duì)缺陷定位、定量和定性是至關(guān)重要的。實(shí)際檢測(cè)中要根據(jù)工件結(jié)構(gòu)形狀、加工工藝和技術(shù)要求來(lái)選擇儀器與探頭。
檢測(cè)儀的選擇
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超聲波檢測(cè)儀是超聲波檢測(cè)的主要設(shè)備。目前國(guó)內(nèi)外檢測(cè)儀種類繁多，性能各
異，檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)探測(cè)要求現(xiàn)場(chǎng)條件來(lái)選擇檢測(cè)儀。一般根據(jù)以下情況來(lái)選擇儀器：（）對(duì)手定位要求高的情況，應(yīng)選擇水平線性誤差小的儀器。（"）對(duì)于定量要求高的情況，應(yīng)選擇垂直線性好，衰減器精度高的儀器。（）對(duì)于大型零件的檢測(cè)，應(yīng)選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。（）為了有效地發(fā)現(xiàn)近表面缺陷和區(qū)分相鄰缺陷，應(yīng)選擇盲區(qū)小、分辨力好的儀
器。（%）對(duì)于室外現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，應(yīng)選擇質(zhì)量輕，熒光屏亮度好，抗干擾能力強(qiáng)的攜帶式儀
器。此外要求選擇性能穩(wěn)定、重復(fù)性好和可靠性好的儀器。 "&探頭的選擇超聲波檢測(cè)中，超聲波的發(fā)射接收都通過探頭來(lái)實(shí)現(xiàn)的。探頭的種類很多。結(jié)
構(gòu)型式也不一樣。檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的形狀、衰減和技術(shù)要求來(lái)選擇探頭。探
頭的選擇包括探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭 ’值的選擇等。 ）探頭類型的選擇常用的探頭有縱波直探頭、橫波斜探頭、表面波探頭、雙晶探頭、聚焦探頭等。一
般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來(lái)選擇探頭的型式，使聲束軸線盡量與缺陷垂直�？v波直探頭只能發(fā)射和接收縱波，波束軸線垂直于探測(cè)面，主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的缺陷，如鍛件、鋼板中的夾層、折疊等缺陷。橫波斜探頭是通過波形轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)橫波檢測(cè)的。主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷。如焊縫中的未焊透、夾渣、未溶合等缺陷。表面波探頭用于探測(cè)工件表面缺陷，雙晶探頭用于探測(cè)工件近表面缺陷。聚焦
　
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